IPCE量子效率用于測量、分析光電探測器、CMOS，CCD等器件的微小局部特性，由于CMOS單位畫素尺寸小于50微米，無法以一般的白光光源聚焦到微米等級的光斑，須采用激光光源方能聚焦到微米等級后，因此需要激光光束引致電流掃描圖譜儀，測量微小器件的居部特性。

　　激光光束引致電流掃描圖譜儀為精密的光電轉(zhuǎn)換IPCE量子效率裝置，用于檢測光電探測器、CCD、CMOS器件的轉(zhuǎn)換效率、均勻度，光譜響應，IPCE量子效率等特性。其組成為激光源、聚焦光路集成系統(tǒng)、精密電動掃描平臺、光電流訊號量測系統(tǒng)、控制分析系統(tǒng)及軟件等五大部分.IPCE量子效率是一種測量量子效率（量子產(chǎn)額）的裝置。將試料放置在固定治具上之后, 按照專業(yè)軟件的指示操作，可以在短時間內(nèi)完成試料的測量及解析。

　　IPCE量子效率專注于簡單操作,IPCE量子效率使用軟件，操作簡單,節(jié)省空間，設(shè)計簡潔,使用分光器類型的激發(fā)光源，可以選擇任意波長,IPCE量子效率可以在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長及步值，實現(xiàn)自動測量。

　　IPCE量子效率專注于高精度測量:

　　.可以瞬間測得量子效率（量子產(chǎn)額）；

　　.可以除去激發(fā)熒光發(fā)光光譜；

　　.采用積分半球系統(tǒng)，IPCE量子效率實現(xiàn)高亮度測量；

　　.采用低雜光多頻分光檢出器，大幅度減少紫外域的雜光。